Now showing items 1-7 of 7

    • Возможности эпр спектроскопии в диагностике алмазного сырья различного генезиса 

      Олешкевич, А. Н.; Нгуен, Т. Т. Б.; Долматов, В. Ю.; Сернов, С. П.; Колесникова, А. В.; Лапчук, Т. М.; Лапчук, Н. М. (БНТУ, 2019)
      Возможности эпр спектроскопии в диагностике алмазного сырья различного генезиса / А. Н. Олешкевич [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 468-470.
      2020-01-03
    • Диагностика методом ЭПР чувствительных к УФ и лазерному излучениям спеченных порошков наноалмаза 

      Олешкевич, А. Н.; Сернов, С. П.; Долматов, В. Ю.; Лапчук, Т. М.; Лапчук, Н. М. (БНТУ, 2022)
      Исследована чувствительность основных параметров спектров ЭПР к ультрафиолетовому и лазерному излучениям при облучении образцов спеченных при высоких давлениях и температурах порошков детонационного наноалмаза. Сравнительная характеристика результатов показала возможность использования исследуемого сверхтвердого композиционного материала на основе спеенных порошков ДНА для ...
      2022-12-28
    • Контроль процесса модификации ионной имплантацией пленок полиэтилентерефталата методами ЭПР, люминесценции и РЭМ 

      Олешкевич, А. Н.; Оджаев, В. Б.; Мудрый, А. В.; Сернов, С. П.; Самбуу, Мунхцэцэг; Лапчук, Т. М.; Лапчук, Н. М. (БНТУ, 2019)
      Контроль процесса модификации ионной имплантацией пленок полиэтилентерефталата методами ЭПР, люминесценции и РЭМ / А. Н. Олешкевич [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 457-459.
      2020-01-03
    • Природа стабильных парамагнитных центров в имплантированных ионами Р+ и В+ пленках позитивного фоторезиста ФП9120 

      Бринкевич, Д. И.; Лапчук, Н. М.; Оджаев, В. Б.; Олешкевич, А. Н.; Просолович, В. С.; Янковский, Ю. Н.; Черный, В. В. (БНТУ, 2019)
      Природа стабильных парамагнитных центров в имплантированных ионами Р+ и В+ пленках позитивного фоторезиста ФП9120 / Д. И. Бринкевич [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 196-198.
      2020-01-03
    • Электронный парамагнитный резонанс в облученных ионами дейтерия и отожженных при температуре 1665 °C пленках CVD алмаза 

      Олешкевич, А. Н.; Хомич, А. В.; Сернов, С. П.; Нгуен Тхи Тхань Бинь; Лапчук, Т. М.; Лапчук, Н. М. (БНТУ, 2023)
      В работе рассмотрены особенности облучения ионами дейтерия пленок CVD алмаза и на основе анализа спектров ЭПР изучено влияние на их структуру и свойства последующего высокотемпературного отжига. Анализ полученных результатов позволил сделать выводы о природе дефектов и возможности создания на их основе, с участием ионов дейтерия, стабильных магнитоупорядоченных структур в пленках ...
      2023-12-21
    • Электрофизические свойства имплантированных ионами металлов фоторезистов в СВЧ диапазоне 

      Волобуев, В. С.; Горжанов, В. В.; Олешкевич, А. Н. (БНТУ, 2016)
      The studies by EPR contactless electrical properties of nanocomposites photoresist in the microwave range of the following results: the maximum ohmic losses are observed for samples at 1.0 × 1017 cm-2, for nickel ions, and iron ions; detected conductivity anisotropy implanted films in the magnetic field.
      2018-04-18
    • ЭПР диагностика электропроводящих слоев в пленках полиэтилентерефталата, облученных ионами фосфора и сурьмы 

      Оджаев, В. Б.; Олешкевич, А. Н.; Карпович, В. А.; Просолович, В. С.; Сернов, С. П.; Лапчук, Т. М.; Лапчук, Н. М. (БНТУ, 2017)
      ЭПР диагностика электропроводящих слоев в пленках полиэтилентерефталата, облученных ионами фосфора и сурьмы / В. Б. Оджаев [и др.] // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 296-298.
      2018-02-07